赫爾納供應(yīng)荷蘭microptik光學(xué)顯微鏡 MI1400赫爾納供應(yīng)荷蘭microptik光學(xué)顯微鏡 MI1400

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢(shì)供應(yīng),荷蘭總部直接采購，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對(duì)一好的解決方案：貨期穩(wěn)定，快速報(bào)價(jià)，價(jià)格優(yōu)，在中國設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù).

公司簡介：

我們開發(fā)完整的開箱即用分析技術(shù)（硬件和軟件）。從原型到交鑰匙安裝！我們?yōu)閿?shù)字視頻顯微鏡和光譜（FTIR、UV、VIS、拉曼、質(zhì)量、光纖、探頭）、EDXRF、冷卻和加熱臺(tái)、采樣配件、微孔板閱讀器、機(jī)器視覺和相關(guān)組件。

microptik光學(xué)顯微鏡 MI1400主要產(chǎn)品：

microptik光學(xué)顯微鏡

microptik光學(xué)顯微鏡 MI1400產(chǎn)品型號(hào)：

MI1400

1200 系列

MHCS1600

microptik光學(xué)顯微鏡 MI1400產(chǎn)品特點(diǎn)：

溫度范圍環(huán)境溫度至 1600°C

溫度分辨率0.1℃

控溫方式切換 PID-PID

溫控傳感器S 型 Pt-10% Rh/Pt 熱電偶

樣品區(qū)? 25 毫米

室高標(biāo)準(zhǔn) 4 毫米（其他根據(jù)要求）

樣品觀察孔32mm（其他根據(jù)要求）

物鏡工作距離6mm（其他可選）

電氣饋通4 個(gè)電氣饋通（其他按要求提供）

microptik光學(xué)顯微鏡 MI1400產(chǎn)品應(yīng)用：

microptik光學(xué)顯微鏡污染、粒度分析、凝膠計(jì)數(shù)和純化 污染、粒度分析、凝膠計(jì)數(shù)和純化 污染、粒度分析、凝膠計(jì)數(shù)和純化 污染、粒度分析、凝膠計(jì)數(shù)和純化 污染、粒度分析、凝膠計(jì)數(shù)和純化C2S 600交鑰匙顏色、污染物、形狀和尺寸分析儀。microptik光學(xué)顯微鏡用于原料樹脂生產(chǎn)和轉(zhuǎn)化/回收行業(yè)造粒檢測(cè)工具。機(jī)器視覺系統(tǒng)，用于污染和紋理檢查和分類。深度學(xué)習(xí) AI 技術(shù)，適用于復(fù)雜和要求苛刻的應(yīng)用程序。從自由落體的兩側(cè)測(cè)量。包括高精度超快速分揀模塊。可選的 X 射線、紅外和 TEBSS 技術(shù)。

microptik光學(xué)顯微鏡1200 系列（環(huán)境溫度至 1600°С），MicrOptik 的 MHS1200-V/G 系列是溫控加熱臺(tái)。MHS1200-V/G 載物臺(tái)是光學(xué)熱顯微術(shù)和光譜學(xué)應(yīng)用以及其他需要溫度的一般應(yīng)用的理想儀器。MHS1200-V/G 可以融入復(fù)雜的高科技設(shè)置。MHS1200-V/G 平臺(tái)為地質(zhì)、流體包裹體、半導(dǎo)體、光伏或其他材料科學(xué)應(yīng)用提供佳解決方案。microptik光學(xué)顯微鏡MHCS1600 系列加熱臺(tái)是需要溫度應(yīng)用的理想儀器。MicrOptik 的 microptik光學(xué)顯微鏡MHCS1600 平臺(tái)為溫度從環(huán)境溫度到 1600 °C 的真空或/和氣密應(yīng)用而開發(fā)。加熱臺(tái)配有高精度 MI1400 可編程溫度控制器。MI1400 溫度控制器可以通過軟件或手動(dòng)操作。它使系統(tǒng)更具適應(yīng)性和靈活性。MI1400 是一款高性能溫度控制器，分辨率和精度為 0.1°C。microptik光學(xué)顯微鏡控制器MI1400內(nèi)置電源，可手動(dòng)控制或通過USB2.0通訊口控制。軟件為所有可能的實(shí)驗(yàn)提供了一個(gè)方便的平臺(tái)。microptik光學(xué)顯微鏡軟件具有溫度曲線功能。斜坡是可編程的。microptik光學(xué)顯微鏡可以命名、保存和加載溫度曲線。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)保存為文本格式（溫度；時(shí)間），microptik光學(xué)顯微鏡可以導(dǎo)出為要求的格式（excel、sql 等...）。可以通過相關(guān)菜單選擇 PID 參數(shù)、溫度限制和控制要素。